涂鍍層測厚儀的原理及應用 

涂層測厚儀又稱為覆層測厚儀，其原理如下： 磁性測厚原理:當測頭與覆層接觸時，霍爾發(fā)現(xiàn)這個電位差UH與電流強度IH成正比，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化,與磁感應強度B成正比，當測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產生電渦流，與薄片的厚度d成反比。通過測量其變化可計算覆蓋層的厚度。 渦流測厚原理：利用高頻交電流在線圈中產生一個電磁場，磁性測厚法是用來無損的測磁性金屬上的非磁性覆蓋層的厚度,現(xiàn)在有一款新型的涂層測厚儀，即涂層測厚儀，它采用的是最新的磁感技術。也就是我們知道的霍爾效應,霍爾于1879年發(fā)現(xiàn)的。渦流法可無損的測量費磁性金屬基體上的非導電層的厚度。通過研究霍爾電壓與工作電流的關系，測量電磁鐵磁嘗磁導率、研究霍爾電壓與磁場的關系,涂層測厚儀又叫覆層測厚儀，測膜儀，涂鍍層儀它是采用磁性測厚法和渦流法測厚原理。

涂層測厚儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型方法：

1.磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量.導磁材料一般為:鋼\\鐵\\銀\\鎳.此種方法測量精度高

例：EPK MiniTest 2500/4500 涂層測厚儀

2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。

例：EPK MiniTest 7400 涂層測厚儀

3.超聲波測厚法:目前國內還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，國外個別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴，超聲涂層測厚儀專用于測量非金屬基體上的涂層。

例：EPK QuintSonic 7 超聲波涂層測厚儀

4.電解測厚法:此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高，測量起來較其他幾種麻煩 

例：EPK GalvanoTest 2000/3000 庫侖測厚儀

5.放射測厚儀:此種儀器價格非常昂貴（一般在10萬RMB以上）,適用于一些特殊場合。