MCS640 碳化硅多孔陶瓷溫度高溫短波紅外熱像儀在化硅多孔陶瓷動態(tài)變化測量

由于被測的陶瓷達到一定溫度后，變?yōu)楦吡廖矬w，而高亮物體在測溫中，往往會對瞄準方式所帶來很大的影響，人肉眼無法直視高亮光，另外紅色激光瞄準光又在高亮背景中完全被掩蓋而無法看見，而采用目視取景器瞄準，則不利于精確瞄準定位，無法標定溫度數(shù)據(jù)更準確。

MCS640紅外熱像儀，采用 1μm左右的近紅外短波的探測器來實現(xiàn)測溫和成像。優(yōu)勢是高溫陶瓷用短波測量更準確，且短波能有效穿透潔凈火焰，避免火焰造成的干擾。

MCS640 可對碳化硅多孔陶瓷溫度分布作動態(tài)測量，并記錄各點溫度數(shù)據(jù)，實時觀測整個陶瓷圓盤表面的溫度數(shù)據(jù)及溫度場的分布以及變化?？蓪π∧繕诉M行測量。可具有等溫線功能，對溫度分布作等溫分析，可捕捉某一區(qū)域內(nèi)最高溫、最低溫、平均溫?？蓪ν稽c不同時刻溫度作曲線圖。

MCS640紅外熱像儀優(yōu)點

?  高精度，0.5％的測量值

?  超過 300,000 個溫度測量點

?  恒溫傳感器具有極高的無漂移穩(wěn)定性

?  千兆以太網(wǎng)接口

?  遠程控制操作，確保安全性

?  實時成像，最高可達 60 Hz 的更新速率

?  可聚焦或定焦鏡頭，可測極小目標和溫度差異

?  易于處理

?  極其堅固的外殼，帶防護窗，防護等級為 IP65

?  短波探測器，準確測量高溫目標和穿透潔凈火焰